domingo, 18 de julho de 2010

Microscopia: O mundo onde vivemos. (PARTE 2)


    Nesse tópico abordarei um aspecto interessante da ciência da microscopia, visando principalmente a mostra de algumas imagens que podemos obter com o equipamento que tratarei aqui.

    Lembra o que foi dito anteriormente? A microscopia tem por objetivo mostrar aquilo que não se pode ver a olho nu, sendo assim, temos que nos valer de algumas técnicas que nos permitam ampliar e/ou expor as regiões que possam nos trazer informações importantes do material a ser observado.
    Vejam que, a grande maioria das pessoas pensam que o microscópio é algo que aumenta a imagem de um objeto que está em frente a um conjunto de lentes, devemos mudar esse conceito a partir de agora. Existem equipamentos que sequer tem aquelas lentes de vidro comuns aos microscópios ópticos, esses microscópios modernos são conhecidos como Microscópios Eletrônicos. Dentro dessa classificação, temos outras, tais como, os Microscópios Eletrônicos de Varredura (MEV) e Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET). Esses equipamentos trabalham com um feixe de elétrons (partículas negativas que compõe os átomos), esses elétrons são lançados contra o material a ser observado e, por se tratar de uma partícula muito pequena, ela sofre desvios e são capturados por detectores que transformam esse sinal em imagem.

    Veja abaixo uma imagem de um MEV que é utilizado por pesquisadores e estudantes do IPEN:



    O Microscópio Eletrônico de Varredura é um microscópio muito potente, podendo aumentar a imagem do objeto em milhares de vezes (até 300.000 X), isso o torna um grande aliado no ramo de caracterização de materiais, sejam eles metais, cerâmicos e/ou biológicos.
    Tecnicamente falando, o princípio de funcionamento do MEV consiste na emissão de feixes de elétrons por um filamento de tungstênio, acelerados mediante a aplicação de uma diferença de potencial que pode variar de 0,5 a 30 kV. A correção do percurso dos feixes de elétrons é realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em direção a abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes de elétrons antes dos mesmos atingirem a amostra analisada.
    O fino feixe de elétrons atinge a superfície da amostra e promove interações com o material, parte do feixe é refletida e coletada por um detector que converte este sinal em imagem (imagem de elétrons retroespalhados) – e parte interage na amostra emitindo elétrons, produzindo a chamada imagem de elétrons secundários. Pode ocorrer também a formação de outras formas de sinal, assim como os raios X.

    Para colocar uma amostra no MEV é preciso que ela conduza corrente elétrica, dessa forma, se a amostra é um metal, pode ser colocada diretamente sob o porta amostras e levada para análise, caso contrário, é necessário que se faça um recobrimento com algum material condutor de elétrons para garantir que haja interação do feixe incidente com a superfície do material, normalmente as amostras que precisam ser recobertas passam por um equipamento que lança uma finíssima camada de Ouro sobre o material.

Agora chegamos na parte interessante do assunto, vejamos algumas amostras obtidas por MEV:

INSETOS


                                   CÉLULAS VERMELHAS                        VIRUS

FORMIGA

Pois bem meus amigos, fica aqui a beleza que a natureza tem a nos oferecer. Nem sempre tudo que vemos no nosso dia-a-dia é aquilo que realmente é.
Um grande abraço a todos.

Até a próxima.